ICC訊 在半導(dǎo)體封測的精密鏈條中,引線鍵合后的外觀質(zhì)量,往往是決定最終良率的“最后一公里”。一顆微米級的虛焊、一個難以察覺的污染點(diǎn),都可能導(dǎo)致芯片功能失效,因此,焊線后的全檢,不僅是工序,更是保障產(chǎn)品可靠性與品牌聲譽(yù)的關(guān)鍵防線。
目前,中山思格自動化科技有限公司全新推出的焊線AOI設(shè)備,正是為攻克這“最后一公里”而打造的專業(yè)利器。設(shè)備廣泛適配 TO、SOT、SMD LED 等多類主流封裝形態(tài)的檢測需求,無論是功率器件還是光電元件,都能提供穩(wěn)定、一致的精密檢測能力,為多元化的半導(dǎo)體封裝產(chǎn)線提供通用且可靠的品質(zhì)守護(hù)。
雙擎驅(qū)動,即插即用,加速良率提升
面對復(fù)雜多變的產(chǎn)線環(huán)境和日益嚴(yán)苛的缺陷檢出要求,思格創(chuàng)新性地采用 “傳統(tǒng)算法 + AI” 雙驅(qū)動檢測引擎。這一架構(gòu)兼具傳統(tǒng)算法的穩(wěn)定高效與AI深度學(xué)習(xí)的強(qiáng)大適應(yīng)能力。設(shè)備支持即插即用,能夠快速部署,無縫接入現(xiàn)有產(chǎn)線,顯著縮短調(diào)校時間,加速實(shí)現(xiàn)每一次良率的躍升。
2D+3D全維度評估,構(gòu)筑零缺陷防線
1. 設(shè)備集成了高分辨率2D成像工位與高精度3D測量工位,構(gòu)建了從平面到立體的全方位檢測體系。
2. 2D工位精準(zhǔn)捕捉黑點(diǎn)、臟污、翹腳、虛焊等外觀瑕疵;
3. 3D工位則對焊線高度、弧度、立碑、本體形變等進(jìn)行微米級量化管控。
4. 雙工位協(xié)同,實(shí)現(xiàn)對產(chǎn)品從物理尺寸到表面質(zhì)量的全維度評估,確保缺陷零流出。
5. 深度學(xué)習(xí)缺陷分類模型支持在線增量訓(xùn)練,能快速適應(yīng)新產(chǎn)品、新物料帶來的變化,越用越“聰明”。
在亞像素級算法與并行處理架構(gòu)加持下,設(shè)備檢測精度高達(dá)10.5微米/像素,單片CT速率快至3-8秒,在保持>99.95%高檢出率的同時,將漏檢與過檢率嚴(yán)格控制在≤0.05%,極大提升直通率與生產(chǎn)效率。為匹配精密檢測需求,設(shè)備搭載高倍率消色差鏡頭與科勒照明系統(tǒng),提供高對比度、高均勻性的理想光場。結(jié)合可靈活配置的多光譜、多角度明暗場方案,無論是金屬光澤反射下的微小劃傷,還是透明材質(zhì)內(nèi)的細(xì)微氣泡,都能清晰呈現(xiàn),為精密檢測提供極致的視覺智慧。
中山思格自動化全新一代焊線AOI設(shè)備,以全面覆蓋的適應(yīng)性、雙擎驅(qū)動的智能性、全維度的精準(zhǔn)性以及卓越的光學(xué)表現(xiàn),直面封測良率“最后一公里”的挑戰(zhàn)。思格致力于以創(chuàng)新技術(shù),為半導(dǎo)體封測企業(yè)提供更精準(zhǔn)、更可靠、更高效的質(zhì)量守護(hù)方案,攜手客戶共贏智能制造的品質(zhì)未來。
光模塊生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的應(yīng)用
在光模塊工藝中,這款焊線 AOI 設(shè)備更是適配高速光模塊生產(chǎn)的高品質(zhì)檢測標(biāo)桿,針對光模塊金絲鍵合、芯片焊接等核心工序的微米級檢測需求,可精準(zhǔn)識別虛焊、塌線、焊盤不良等易導(dǎo)致光模塊性能失效的隱蔽缺陷,從工藝源頭規(guī)避光功率、插入損耗等關(guān)鍵參數(shù)異常問題,大幅提升光模塊產(chǎn)品的品質(zhì)一致性與長期使用可靠性。
同時設(shè)備以標(biāo)準(zhǔn)化的智能檢測流程完全替代人工目檢,徹底擺脫對資深檢測人員作業(yè)經(jīng)驗(yàn)的依賴,無需長時間專業(yè)培訓(xùn)即可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)線快速上手,既降低了人工誤判、漏檢的概率,也有效節(jié)省了人力成本與管理成本,讓光模塊產(chǎn)線在擴(kuò)產(chǎn)提效的同時,實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定、可控的品質(zhì)管控。
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新聞來源:訊石光通訊網(wǎng)