SPA-110高精度光鏈路分析儀：微米級透視，重新定義光通信檢測新標準

  ICC訊 在5G、數據中心、硅光技術快速發(fā)展的今天，光器件的可靠性和性能直接影響著整個通信系統的穩(wěn)定性。然而，傳統檢測技術面臨著分辨率不足、侵入式損傷、數據單一三大痛點，導致故障定位困難、研發(fā)效率低下。Santec SPA-110高精度光鏈路分析儀的出現，徹底改變了這一現狀。基于OFDR（光頻域反射測量）技術，它實現了5微米級超高分辨率檢測，為行業(yè)帶來革命性的解決方案。

  技術突破：OFDR 原理揭秘

  SPA-110的核心技術優(yōu)勢源于OFDR的獨特工作原理。與傳統OTDR技術相比，OFDR通過頻率掃描和干涉測量，實現了從"厘米級"到"微米級"的跨越。

  · 采用Santec可調諧激光器（TSL系列）進行寬頻掃描。

  · 通過背向瑞利散射光與參考光干涉，獲取精確的頻域信息。

  · 利用傅里葉變換將頻率信息轉換為空間距離信息。

  · 生成高精度的反射和損耗分布曲線。 

  核心優(yōu)勢

  超高分辨率檢測能力

  · 5微米空間分辨率

  · 可清晰識別光纖微裂紋、芯片耦合點偏移等微小缺陷

  · 支持硅光波導中高精度的檢測需求

  全面的性能參數

  · 反射模式靈敏度：-145dB

  · 傳輸模式IL動態(tài)范圍：≥80dB

  · 測量重復性：±180μm~±300μm

  · 支持O波段（1260-1350nm）和CL波段（1480-1640nm）

  智能化軟件平臺

  配備專業(yè)的測量分析軟件，支持一鍵式操作、自動峰值檢測、實時數據分析等功能。

  應用案例：多場景實戰(zhàn)驗證

  案例一：硅光芯片波導結構分析

  在硅光子器件測試中，SPA-110成功實現了對波導內部結構的精準分析。通過高分辨率掃描，清晰顯示出波導彎曲處的反射特征，為芯片設計優(yōu)化提供了重要數據支持。

  測試成果

  · 準確識別波導中周期性彎曲結構（0.2mm）

  · 波紋峰值與設計完全吻合，驗證制造精度

  · 為非接觸式檢測提供了新的技術路徑

  案例二：光模塊內部故障精確定位

  某數據中心光模塊出現性能異常，傳統方法無法定位問題。使用SPA-110檢測后，在距離端口5.4227mm處發(fā)現微米故障，精準定位故障點。

  價值體現

  · 避免整個模塊報廢，節(jié)省成本

  · 故障分析時間從數天縮短至小時級

  · 為生產工藝改進提供數據依據

  案例三：光纖器件性能驗證

  在特種光纖器件檢測中，光纖微裂紋是導致信號衰減和設備故障的主要原因之一。這些微米級的缺陷雖然肉眼不可見，卻會嚴重影響光信號的傳輸質量，SPA-110確保器件性能符合設計要求。

  Santec的 SPA-110 實現技術突破，為硅光、CPO 等領域提供檢測支撐，助力研發(fā)創(chuàng)新、質控提升與成本優(yōu)化。其精準高效的檢測能力，惠及產業(yè)鏈及科研端，為光通信產業(yè)高質量發(fā)展注入實用動力

   官網 : www.santec.com.cn